冷熱沖擊試驗是將試驗樣品交替暴露在低溫和高溫空氣（或適當?shù)亩栊詺怏w）中，以承受溫度快速變化的影響。用于評價產(chǎn)品對周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是設(shè)備設(shè)計定型的鑒定試驗和批量生產(chǎn)階段的常規(guī)試驗，也可用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗。可以說，冷熱沖擊試驗箱僅次于振動和高低溫試驗，以驗證和提高設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性。

冷熱沖擊試驗的目的是：

1.工程開發(fā)階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計和工藝缺陷；

2.提供產(chǎn)品定型或設(shè)計鑒定和批產(chǎn)階段驗收決策依據(jù)；

3.作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用，目的是消除產(chǎn)品的早期故障。

試驗條件：

高溫箱：RT～180℃；

低溫箱：RT～-50℃；

試驗溫度保持時間：1：1h或者直到試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以長者為準；

循環(huán)次數(shù)：根據(jù)不同行業(yè)、不同廠家的不同試驗要求，按標準試驗方法進行試驗。

恢復(fù)：

試驗產(chǎn)品從冷熱沖擊箱中取出后，應(yīng)在正常試驗大氣條件下恢復(fù)，直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。

高低溫沖擊試驗標準：

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分，實驗方法試驗A-低溫

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分，試驗方法試驗B-高溫

GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分，實驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分，試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）

IEC60068-2-30-2005環(huán)境試驗第2-30部分：Db：循環(huán)濕熱實驗(12)h+12h循環(huán)）

IEC60068-2-14-2009環(huán)境試驗第2-14部分：N：溫度變化

GB/T164232-2014塑料實驗室光源暴露試驗方法第二部分

冷熱沖擊試驗箱的要求：

采用高溫箱和低溫箱進行冷熱沖擊試驗，提供試驗樣品經(jīng)受周圍空氣溫度急劇變化的環(huán)境溫度。高溫區(qū)的要求應(yīng)符合要求GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法高溫試驗》第三章各條規(guī)定的要求.低溫區(qū)的要求應(yīng)符合低溫區(qū)的要求GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法低溫試驗》第三章各條規(guī)定的要求；

冷熱沖擊箱提供高溫試驗部分和低溫試驗部分，應(yīng)分別符合要求GJB150.3-86和GJB150.4-86第三章各條規(guī)定的要求；

試驗箱的體積應(yīng)保證在試驗樣品中放入候補，超過試驗溫度保持時間的10%，使試驗箱的溫度達到GJB150.1-89中3.在2條規(guī)定的試驗條件容差范圍內(nèi)。

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