跌落測(cè)試通常是主要用來(lái)模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑，堅(jiān)硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測(cè)試規(guī)范來(lái)決定）。

跌落測(cè)試目的：

對(duì)貨物的外包裝運(yùn)輸過(guò)程中的抗跌落能力進(jìn)行評(píng)估，該實(shí)驗(yàn)—般用到跌落試驗(yàn)機(jī)。

跌落測(cè)試高度標(biāo)準(zhǔn)：

對(duì)于不同的產(chǎn)品國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的跌落方式和跌落高度要求不同。對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī)，MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等，IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。

根據(jù)參考標(biāo)準(zhǔn)，跌落面為混凝土或者鋼制的平滑。堅(jiān)硬的剛性表面，或者必要時(shí)候?yàn)槠渌孛?，如大理石地面等?/span>

跌落測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.8《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落》；

IEC60068-2-32《自由跌落試驗(yàn)方法》；

GB-T4857.5包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法；

AS***5276-98(2009)。

跌落測(cè)試原理：

當(dāng)包裝箱，包裝帶輪產(chǎn)品從某一高度跌落下來(lái)與跌落區(qū)地面接觸時(shí)，會(huì)受到一個(gè)較大的沖量。從而會(huì)引起包裝箱，包裝帶輪，產(chǎn)品產(chǎn)生瞬態(tài)振動(dòng)，產(chǎn)生一定位移。在包裝箱，包裝帶輪，產(chǎn)品內(nèi)產(chǎn)生較大的應(yīng)力和應(yīng)變?？沟淠芰θ醯陌b箱，包裝帶輪，產(chǎn)品就會(huì)因跌落而損壞或性能降低。試驗(yàn)后對(duì)包裝箱，包裝帶輪，產(chǎn)品外觀進(jìn)行檢測(cè)就能判斷包裝箱，包裝帶輪，產(chǎn)品抗跌落能力的強(qiáng)弱。

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