EMC（電磁兼容性）的定義包括兩個方面。一是設(shè)備應能在一定的電磁環(huán)境中正常工作，即設(shè)備應具有一定的電磁抗擾性（EMS）；其次，設(shè)備本身的電磁騷擾不能對其他電子產(chǎn)品產(chǎn)生太大的影響，即電磁騷擾（EMI）。
為了規(guī)范電子產(chǎn)品的電磁兼容性，世界各地和國家都制定了相關(guān)的EMC標準。例如，歐洲在CE強制認證中發(fā)布了EMC指令。美國在FCC法規(guī)中發(fā)布了Part15B/CPart22/24CPart22/24.GB4943.1..這些政策為電子產(chǎn)品的EMC認證提供了有力的保障。因此，產(chǎn)品必須符合EMC法規(guī)的要求，違反電磁兼容性法規(guī)的產(chǎn)品銷售將面臨高額罰款。因此，制造商越來越重視產(chǎn)品的電磁兼容性。
1.輻射發(fā)射試驗(RE)
測試電子、電氣、機電設(shè)備及其部件的輻射發(fā)射，包括所有部件、電纜和連接上的輻射發(fā)射，以確定其輻射是否符合標準要求，并在正常使用過程中影響同一環(huán)境中的其他設(shè)備。
2.傳導發(fā)射試驗(CE)
為了衡量設(shè)備從電源端口、信號端口向電網(wǎng)或信號網(wǎng)絡傳輸?shù)母蓴_信號是否超標。
3.靜電放電抗擾測試(ESD)
測試單個設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電放電干擾能力，模擬接觸設(shè)備時操作人員或物體的放電；人或物體對附近物體的放電。靜電放電可能產(chǎn)生以下后果：半導體設(shè)備的損壞、放電引起的電場磁場變化和設(shè)備的誤操作。放電的噪聲電流會導致設(shè)備的誤操作。
4.射頻輻射電磁場抗擾度試驗(RS)
設(shè)備的干擾往往是設(shè)備操作和安全檢查人員使用移動電話時產(chǎn)生的。廣播電臺、電視發(fā)射機、移動電發(fā)射機和各種工業(yè)電磁輻射源，以及焊機、晶閘管整流器和熒光燈工作時產(chǎn)生的寄生輻射，都會產(chǎn)生射頻輻射干擾。測試的目的是建立一個共同的標準來評估電子設(shè)備的抗射頻輻射電磁場干擾能力。
5.電快速瞬變脈沖群抗擾測試(EFT)
電路中機械開關(guān)對電感負載的切換通常會干擾同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備。測試機理是利用群脈沖產(chǎn)生的共模電流流過線路時電容能量分布的積累效應。當能量積累到一定程度時，可能會導致線路（甚至設(shè)備）工作錯誤。通常，一旦測試設(shè)備出現(xiàn)錯誤，就會不斷出現(xiàn)錯誤。即使脈沖電壓略有降低，錯誤仍會不斷解釋。脈沖成群出現(xiàn)，脈沖重復頻率高，波形上升時間短，能量小，一般不會造成設(shè)備故障，使設(shè)備出現(xiàn)誤操作。
6.雷擊浪涌沖擊抗擾測試(Surge)
浪涌(沖擊)抗擾性試驗(Surge) 浪涌(沖擊)抗擾性試驗(Surge immunity test,簡稱Surge)，又稱雷擊試驗，浪涌(沖擊)是由設(shè)備組合對地系統(tǒng)的短路和電弧故障與外界雷電耦合，或直接擊于外部(戶外)電路,注入的大電流流過接地電阻或外部電路阻抗而產(chǎn)生的能量,浪涌(沖擊)抗擾性試驗主要是模擬上述能量通過連接線纜(電源線等)對電子產(chǎn)品產(chǎn)生的干擾。
7.射頻場感應的傳導抗擾測試(CS)
模擬對講機、手機、基站等射頻信號，耦合到（EUT)試驗產(chǎn)品造成的射頻干擾。主要是評估150kHz~80mHz頻率范圍**頻發(fā)射機電磁騷擾的電子設(shè)備的傳導抗干擾要求。至少通過連接電纜與射頻場耦合引起的干擾變成傳導干擾入侵設(shè)備，最終通過射頻電壓電流形成的近場電磁場影響設(shè)備的工作。
8.測試電壓下降、斷時中斷和電壓漸變抗擾度
電壓暫降和短期中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施故障或電網(wǎng)負荷突然發(fā)生重大變化引起的。在某些情況下，會有兩次或兩次以上的暫降和中斷。電壓變化是由電網(wǎng)負荷的連續(xù)變化引起的。
電磁兼容EMC測試還包括:工頻磁場、脈沖磁場、阻尼振蕩磁場、振鈴波、振蕩波、低頻共模傳導抗擾度、工頻頻率變化、電源端口諧波抗擾度測試等測試項目，但這些測試項目并不是特別常用，一般電力設(shè)備、風力發(fā)電設(shè)備等都需要做工頻磁場、脈沖磁場、阻尼振蕩磁場、振鈴波等抗擾度測試。
emc測試項目包括哪些就講到這里了，藍亞技術(shù)小編將每天為大家分享認證的相關(guān)知識~
