浪涌測(cè)試目的是驗(yàn)證被試裝置因開關(guān)通斷或雷擊產(chǎn)生的浪涌電壓，在電源和互連線路上產(chǎn)生的高能量騷擾時(shí)能否正常工作。
浪涌測(cè)試是測(cè)試電子產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)遭受瞬間高電壓沖擊時(shí)的性能表現(xiàn)。該測(cè)試主要是為了檢測(cè)電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中，是否能夠承受電源線路突發(fā)的高電壓干擾，以確保產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。
浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)所采用的國家標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T17626.5-2008《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)》它等同于國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC61000-4-5:2005標(biāo)準(zhǔn)中描述了兩種不同的波形發(fā)生器，一種是（電壓波形：1.2/50us，電流波形：8/20us）組合波發(fā)生器，另一種是符合國際電信聯(lián)盟委員會(huì)的要求（電壓波形：10/700us，電流波形：5/320us）組合波發(fā)生器。
1.ANSI/IEEE C62.41.2：該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于測(cè)試低壓（1000V以下）電氣設(shè)備和電氣線路的瞬變電壓浪涌耐受能力的測(cè)試方法和要求。
2.EN 61000-4-5：該標(biāo)準(zhǔn)是歐洲標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了電力系統(tǒng)中的瞬變電壓浪涌測(cè)試的方法和要求，適用于所有電氣設(shè)備。
3.VDE 0845：該標(biāo)準(zhǔn)是德國標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了用于測(cè)試電氣設(shè)備在電力系統(tǒng)中遇到電壓浪涌時(shí)的耐受能力的測(cè)試方法和要求。
1.帶電擊浪涌測(cè)試：該測(cè)試是對(duì)電子產(chǎn)品的輸入/輸出端口進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試中將電壓施加到輸入/輸出端口，以檢測(cè)電子產(chǎn)品的輸入/輸出端口是否能夠承受電磁脈沖的影響，并具有足夠的抑制能力；
2.帶電瞬變浪涌測(cè)試：該測(cè)試是對(duì)電子產(chǎn)品的電源線路進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試中將電壓施加到電源線路，以檢測(cè)電子產(chǎn)品的電源線路是否能夠承受電磁脈沖的影響，并具有足夠的抑制能力；
3.交流電源浪涌測(cè)試：該測(cè)試是對(duì)電子產(chǎn)品在交流電源輸入下進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試中將高壓脈沖施加到電源線路，以檢測(cè)電子產(chǎn)品在輸入交流電源時(shí)是否能夠承受電磁脈沖的影響，并具有足夠的抑制能力；
4.直流電源浪涌測(cè)試：該測(cè)試是對(duì)電子產(chǎn)品在直流電源輸入下進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試中將高壓脈沖施加到電源線路，以檢測(cè)電子產(chǎn)品在輸入直流電源時(shí)是否能夠承受電磁脈沖的影響，并具有足夠的抑制能力；
5.外部線路干擾浪涌測(cè)試：該測(cè)試是對(duì)電子產(chǎn)品與外部干擾源接觸時(shí)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試中將高壓脈沖施加到電子產(chǎn)品的外部線路，以檢測(cè)電子產(chǎn)品是否能夠承受外部干擾源的影響，并具有足夠的抑制能力。
浪涌測(cè)試是什么，國家測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)就講到這里了，如有什么沒有解答到位的，大家可持續(xù)關(guān)注藍(lán)亞技術(shù)，每天為大家分享認(rèn)證的相關(guān)知識(shí)~
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