MTBF測試壽命試驗 CNAS授權機構

2021-11-09   ?   Orange

MTBF測試壽命試驗CNAS授權,**藍亞技術對相關的MTBF檢測及相關實驗室進行授權,可以幫助企業(yè)輕松完成壽命試驗,下面隨小編一起來看看更多詳細資料!

MTBF是一種研究產品壽命特性的方法,它可以在實驗室模擬多種使用條件。生命測試是可靠性試驗中的一個重要基礎項目,它是把產品置于特定的試驗條件下研究其失效(損壞)隨時間而變化的規(guī)律。利用壽命試驗,可了解產品的壽命特性、失效規(guī)律、失效效率、平均壽命及壽命試驗中可能出現(xiàn)的各種失效模式。

如果結合失效分析,可以進一步找出引起產品失效的主要機制,例如可靠性設計、可靠性預測、改進新產品質量、合理篩選、例行(批量保證)試驗條件等。若要縮短試驗時間,可在不改變破壞機理的條件下,采用增大應力法,即加速壽命試驗。用壽命試驗評估產品的可靠性水平,通過質量反饋,可提高新產品的可靠性。


MTBF測試壽命試驗 CNAS授權機構(圖1)


適當?shù)脑O備在合適的工作條件下,設備的失效率非常低。電子器件的使用壽命,與使用溫度有密切關系。計算機主板常用的也是經(jīng)常出現(xiàn)故障的電解電容器,其壽命將受溫度的影響。所以,應該盡量使電容器在低溫下工作,如果電容器的實際工作溫度超出了它的規(guī)格范圍,那么它不僅壽命會縮短,而且還會嚴重損壞電容器(如電解液泄漏)。

生命測試(MTBF)分定時截尾試驗和定數(shù)截尾試驗,其估算方法有:平均壽命點估計、單側信函下估計、雙側間估計。

高壽命試驗:高溫壽命試驗是通過溫度電壓加速法,以較短時間的實驗方式對IC產品的長期使用壽命進行評價。

常用的生命周期試驗有BI(Burn-in)/EFR(EarlyFailureRate)/HTOL(HighTemperatureOperatingLife)/TDDB(Timedependent***lectricBreakdown),此外,還有相應的測試方法和條件,例如HTGB(HighTemperatureGateBias)/HTRG(HighTemperatureReverseBias)/BLT(BiasLifeTest)/IntermittentOperationLife等等。

低壽命試驗:低溫運行壽命試驗是用低溫和電壓加速方法,對該部件在低溫環(huán)境下的使用壽命進行評估,其溫度工作壽命檢測GJB899-2009。

MTBF測試壽命試驗CNAS授權機構,以上有關壽命試驗內容,針對不同的產品做不同的MTBF測試。

適用范圍:適用于所有客戶對MTBF有要求的數(shù)字相機產品量產前驗證。


本期藍亞小編orange,關于MTBF測試壽命試驗 CNAS授權機構的知識就介紹到這,想要獲取更多關于MTBF測試的有關內容,請您關注藍亞,我們將持續(xù)為您解答~ ,您這邊有任何疑問也可以主頁留言或者聯(lián)系下方專業(yè)人士為您服務,希望對大家有所幫助。

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MTBF測試壽命試驗 CNAS授權機構(圖2)

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